大尺寸振動(dòng)臺是一-款經(jīng)濟(jì)型，一款正弦振動(dòng)試驗(yàn)設(shè)備（功能函蓋定頻振動(dòng)、線性掃頻振動(dòng)、對數(shù)掃頻、倍頻、程式等），在試驗(yàn)室內(nèi)模擬電工電子產(chǎn)品在運(yùn)輸（船舶、飛機(jī)、 車輛、空間飛行器上所產(chǎn)生的振動(dòng)）、儲存、使用過程中所遭受的振動(dòng)及其影響，并考核其適應(yīng)性。

電磁振動(dòng)臺廣泛應(yīng)用于汽車零部件、儀器儀表、玩具等各行各業(yè)的產(chǎn)品設(shè)計(jì)、研發(fā)、制造過程中，模擬產(chǎn)品在運(yùn)送、使用中產(chǎn)生的碰撞及振動(dòng)，檢測產(chǎn)品實(shí)際工況和結(jié)構(gòu)強(qiáng)度。

測試方法：

ISO 2247 固定低頻率振動(dòng)試驗(yàn)

ISO 13355 垂直隨機(jī)振動(dòng)試驗(yàn)

ASTM D999 ASTM D4728

ASTM D3580

GB/T 4857. 10-2005

GB/T 4857. 7

大尺寸振動(dòng)臺的測試模式：

定頻試驗(yàn)：在選定的頻率上（可以是共振頻率，特定頻率，或危險(xiǎn)頻率）按規(guī)定的量值進(jìn)行正弦振動(dòng)試驗(yàn)，并達(dá)到規(guī)定要求的時(shí)間。

掃頻試驗(yàn)：在規(guī)定的頻率范圍內(nèi)，按規(guī)定的量值以一定的掃描速率由低頻到高頻，再由高頻到低頻作為一次掃頻，直到達(dá)到規(guī)定的總次數(shù)或時(shí)間為止。

對數(shù)試驗(yàn)：對數(shù)模式中，低頻掃描速度慢，高頻掃描速度快，對數(shù)掃頻以1分鐘為單位，1 分鐘時(shí)間完成掃頻速率加倍。

隨機(jī)試驗(yàn)：隨機(jī)振動(dòng)是一種非確定性振動(dòng)，當(dāng)物體作隨機(jī)振動(dòng)時(shí)，我們預(yù)先不可能確定物體上某監(jiān)測點(diǎn)在未來某個(gè)時(shí)刻運(yùn)動(dòng)參量的瞬時(shí)值。

程式試驗(yàn)：依測試需求，可設(shè)置不同試驗(yàn)頻率、時(shí)間，可單組或多組。

倍頻試驗(yàn)：倍頻掃頻是持續(xù)的且其頻率隨時(shí)間應(yīng)該按指數(shù)規(guī)律進(jìn)行變化，掃頻速率（掃頻過程中可控變量頻率對時(shí)間的變化率df/dt）應(yīng)為每分鐘一個(gè)倍頻程。有頻率范圍從f1→f2→f1掃頻一次的試驗(yàn)時(shí)間（加速時(shí)間），通過公式：6.644log10（高頻/低頻 ）計(jì)算出來的結(jié)果，且其掃頻速率保證1倍頻程/分鐘的要求。